Б/У Оборудование - Страница 3

10+
Лет опыта
на рынке
200 000+
Позиций
в каталоге
1–2 ч
Ответ
на запрос
100%
Гарантия
на запчасти
Onto Innovation Atlas XP, б/у. 2008 год. Система измерения OCD и толщины.
Onto Innovation Atlas XP, б/у. 2009 год. Система измерения OCD и толщины.
Onto Innovation Atlas XP+, б/у. 2010 год. Система измерения OCD и толщины.
Thermo Fisher Helios Nanolab 1200, б/у. Двухлучевая система SEM/FIB.
Carl Zeiss Axiospect 300, б/у. 2010 год. Станция визуального контроля.
HSEB MMT 300, б/у. Станция визуального контроля.
Carl Zeiss Axiotron300, б/у. Станция визуального контроля.
Onto Innovation Atlas XP+, б/у. 2011 год. Система измерения OCD и толщины.
Thermo Fisher Helios NanoLab 450, б/у. Система микроскопического контроля.
Onto Innovation UniFire 7900, б/у. Система контроля профиля.
Thermo Fisher Helios NanoLab 450S, б/у. Двухлучевая система SEM/FIB.
Thermo Fisher Helios NanoLab 450S, б/у. Двухлучевая система SEM/FIB.
Thermo Fisher Titan, б/у. Просвечивающий электронный микроскоп.
Carl Zeiss Axiospect 300, б/у. Станция визуального контроля.
Onto Innovation Atlas XP+, б/у. 2012 год. Система измерения OCD и толщины.
KLA Aleris HX8500, б/у. 2008 год. Система измерения толщины.
AMAT SEMVision G5 HP, б/у. 2011 год. Система электронной микроскопии DR-SEM.
Thermo Fisher Helios NanoLab 450, б/у. Система микроскопического контроля.
Thermo Fisher Helios NanoLab 450, б/у. Система микроскопического контроля.
Rudolph S3000A, б/у. 2012 год. Система измерения толщины.
Onto Innovation Atlas XP+, б/у. 2012 год. Система измерения OCD и толщины.
Rudolph S3000A, б/у. 2012 год. Система контроля толщины.
AMETEK Apollo XP, б/у. Рентгеновская система контроля.
Rudolph NSX 320, б/у. 2011 год. Система макроинспекции.
Показать еще 24 товара