Б/У Оборудование - Страница 4

10+
Лет опыта
на рынке
200 000+
Позиций
в каталоге
1–2 ч
Ответ
на запрос
100%
Гарантия
на запчасти
Onto Innovation Atlas II+, б/у. 2013 год. Система измерения OCD и толщины.
Onto Innovation Atlas II+, б/у. Система измерения OCD и толщины.
KLA eDR7380, б/у. 2013 год. Система электронно-лучевого анализа дефектов пластин.
KLA eS810, б/у. 2013 год. Система электронно-лучевой инспекции.
Thermo Fisher Helios NanoLab 450, б/у. Система микроскопического контроля.
Onto Innovation SPARK-API, б/у. Система макроинспекции.
Rudolph NSX 320, б/у. Система макроинспекции.
Thermo Fisher Helios NanoLab 450HP, б/у. Система микроскопического контроля.
Onto Innovation AWX FSI 300, б/у. 2013 год. Система контроля частиц.
Rudolph NSX 320, б/у. Система макроинспекции.
Onto Innovation NSX330, б/у. 2013 год. Система макроинспекции.
KLA eS810, б/у. 2014 год. Система электронно-лучевой инспекции.
KLA Spectra FX200, б/у. 2007 год. Система измерения толщины.
Onto Innovation NSX330, б/у. 2015 год. Система макроинспекции.
Onto Innovation SPARK-API, б/у. Система макроинспекции.
AMAT PROVision, б/у. 2016 год. Система электронной микроскопии HT-SEM.
Lam Research Mentor DF3 XP, б/у. 2016 год. Система контроля массы.
Lam Research METIOR, б/у. 2015 год. Система контроля массы.
ECI QFDS-5800E, б/у. Система анализа металлических примесей.
Lam Research Mentor DF3, б/у. 2016 год. Система контроля массы.
Lam Research METIOR, б/у. 2018 год. Система контроля массы.
Lam Research Aether, б/у. Установка плазменного травления.
Teradyne Maverick II, б/у. Тестер памяти.
Teradyne Maverick II, б/у. 2004 год. Тестер памяти.
Показать еще 24 товара