Модуль автоматизированной транспортной системы RORZE RSC172, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

RORZE RSC172, б/у. Модуль автоматизированной транспортной системы.

Система электрического тестирования Advantest T5377S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377S, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377S, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377S, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377S, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377S, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377S, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377S, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5377S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5377S, б/у. Система электрического тестирования.

Система электрического тестирования Advantest T5833ES, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Advantest T5833ES, б/у. Система электрического тестирования.

Система инспекции фотошаблонов KLA SLF27, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

KLA SLF27 для инспекции фотошаблонов, б/у, 2005 год. Технологический модуль и SMIF. Артикул E2258166.

Установка нанесения и проявления покрытий на пластинах TEL LITHIUS, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

TEL LITHIUS, б/у: нанесение и проявление покрытий на пластинах. Inline, 4 FOUP, направление L→R. Артикул E2258179.

Система макроинспекции Rudolph AXI-935D, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Rudolph AXI-935D для макроинспекции, б/у, 2009 год. Станция контроля кромки и обратной стороны пластины. Артикул E2258190.

Система электронной микроскопии AMAT SEMVision G4, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

AMAT SEMVision G4, б/у, 2010 год. Система DR SEM с основным блоком, детекторами, насосом и EFEM. Артикул E2258195.

Двухлучевая система SEM/FIB Thermo Fisher Scientific Helios NanoLab 450S, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Helios NanoLab 450S, б/у, двухлучевая система SEM/FIB. Электронная и ионная колонны, S-GIS и детектор SE. Артикул E2258197.

Система измерения OCD и толщины Onto Innovation Atlas, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Onto Innovation Atlas, б/у, 2004 год. Измерение OCD и толщины. Основной блок и модуль EFEM. Артикул E2258259.

Установка очистки пластин SCREEN SS-3000-AR, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

SCREEN SS-3000-AR для очистки пластин, б/у, 2006 год. 3 FOUP, направление L→R, модуль Reverse Unit. Артикул E2258283.

Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension Icon, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension Icon, б/у. Основной блок, контроллер и ПК. Артикул E2258384.

Тестер Teradyne Maverick II, б/у, на запчасти

0.0

Цена по запросу

+ −

Teradyne Maverick II, б/у, на запчасти. Основные платы и SITE-платы отсутствуют. Артикул E2258168.

Система электрического тестирования Teradyne Magnum PV, б/у

0.0

Цена по запросу

+ −

Teradyne Magnum PV, б/у. 3 SITE-платы PN 508540, IPC и DELL Precision T3600. Комплектация без M/P. Артикул E2258182.

Б/У Оборудование - Страница 6