Б/У Оборудование

10+
Лет опыта
на рынке
200 000+
Позиций
в каталоге
1–2 ч
Ответ
на запрос
100%
Гарантия
на запчасти
KLA SL3UV, б/у. Система инспекции фотошаблонов.
INTERNOVA ICLS-RTX, б/у. SMIF-система для фотошаблонов.
INTERNOVA ICLS-RTX, б/у. SMIF-система для фотошаблонов.
ASML AT400, б/у. Система сканирования пластин.
Rudolph AXI 930, б/у. Система макроинспекции.
Thermo Fisher ECO3000S, б/у. Система контроля легирования.
KLA KLA2830, б/у. Система инспекции в светлом поле.
EUV TECH LPR-1016, б/у. Система измерения рисунка фотошаблонов.
Rave MERLIN, б/у. Система ремонта фотошаблонов.
KLA SP3, б/у. Система контроля частиц.
Thermo Fisher Helios NanoLab 450 F1, б/у. Двухлучевая система SEM/FIB.
KLA SL3URSA, б/у. 1999 год. Система инспекции фотошаблонов.
AMAT PROVision, б/у. Система электронной микроскопии HT-SEM.
KLA eS810, б/у. Система электронно-лучевой инспекции.
Thermo Fisher ECO3000S, б/у. Система контроля легирования.
Onto Innovation NSX330, б/у. 2017 год. Система макроинспекции.
ASML YieldStar S-200B, б/у. 2011 год. Система контроля совмещения слоёв.
ASML YieldStar S-250D, б/у. 2015 год. Система контроля совмещения слоёв.
ATI AMS1000, б/у. 2017 год. Система макроинспекции.
Onto Innovation Atlas, б/у. Система измерения OCD и толщины.
Onto Innovation Atlas, б/у. 2005 год. Система измерения OCD и толщины.
KLA Spectra FX100, б/у. 2004 год. Система измерения толщины плёнок.
Onto Innovation Atlas, б/у. 2004 год. Система измерения OCD и толщины.
KLA SP1 DLS, б/у. Система контроля частиц.
Показать еще 24 товара